专利摘要显示，安拆及存储介质，所述方式包罗：获取第一序列和多个参数别离对应的第二序列，基于第一序列确定至多一个良率变点，基于至多一个良率变点以及多个参数别离对应的第二序列，从多个参数中确定多组产物的良率影响因子。本申请通过良率变点对多个参数的第二序列进行阐发，可以或许从多个参数中精确简直定出影响良率的参数，以便于后续对影响产物良率的参数进行阐发，从而有帮于企业快速响应出产中的非常波动，优化出产流程，提拔产质量量不变性。

　　金融界 2025 年 1 月 22 日动静，国度学问产权局消息显示，京东方科技集团股份无限公司申请一项名为“良率影响因子简直定方式、公开号 CN 119273231 A，申请日期为 2024 年 9 月。